Справочник интенсивности отказов скачать

ИНТЕНСИВНОСТЬ ОТКАЗОВ МИКРОСХЕМ.

K э i – коэффициент жесткости условий эксплуатации; Kvi – коэффициент, определяемый степенью понижения напряжения питания микросхем по сравнению с максимально допустимым; K кор i – коэффициент, зависящий от типа корпуса микросхемы; K пр i – коэффициент, определяемый типом приемки; K ос i – коэффициент, определяемый степенью освоенности технологии изготовления микросхемы данного типа. Рассмотрим численные значения указанных коэффициентов (индексы i в обозначениях для упрощения опускаем). 1. ? – базовая интенсивность отказов.

Для аналоговых микросхем ? = 0,023·10 -6 . Для цифровых микросхем ? = 0,017·10 -6 . Для ОЗУ ? = 0,038·10 -6 . Для ПЗУ ? = 0,020·10 -6 . Для некоторых конкретных типов микросхем, имеющих пониженную надежность, величина ? указывается отдельно. В нашем случае это микросхемы К140УД12, К564ЛС2, КР590КН2. 2. Коэффициент K ст определяется сложностью (степенью интеграции) микросхемы и рабочей температурой. Так, для всех типов цифровых микро- схем, кроме ОЗУ и ПЗУ, для температуры 25…30 °С значения K ст лежат в пределах 1…2,5. Для ОЗУ и ПЗУ значения K ст определяются величиной памяти запоминающего устройства и температурой окружающей среды. Так, для температуры 25 °С для ОЗУ емкостью 2 Кбайт (микросхема типа ИМ1821РУ55) K ст = 1,4, а для ПЗУ емкостью 16 Кбайт (микросхема типа К573РФ2) K ст = 2,5. 3. Коэффициент жесткости эксплуатации K э определяется условиями эксплуатации микросхемы. Для морских условий эксплуатации (работа в закрытых помещениях) K э = 2.

4. Коэффициент Kv = 1 для всех микросхем, кроме микросхем КМОП. Для микросхем КМОП Kv = 1 при U. Для всего устройства интенсивность отказа микросхем будет определяться с учетом всех n типономиналов. Вычисляя величины П i для всех n типов микросхем конкретного устрой- ства и суммируя их для i = 1. n , окончательно получим. . (4) э микр э 1 2 i n N i i? ? ? ?? ? ? ? ПОКАЗАТЕЛИ НАДЁЖНОСТИ РЭА И ИХ ЭЛЕМЕНТОВ. Интенсивность отказов. Под интенсивностью отказов элементов для интервала времени ?ti понимают значение условной плотности распределения времени до отказа при условии, что к началу рассматриваемого момента времени ?ti отказов не было. С использованием результатов испытаний интенсивность отказов численно можно определить как.

где n(?ti) – количество элементов, отказавших в i-м временном интервале; Nсрi–среднее количество элементов, безотказно работавших в i-м временном интервале; ?ti–ширина i-го временного интервала. НАДЁЖНОСТЬ ЭЛЕМЕНТОВ. Интенсивность отказов как основная характеристика безотказности элементов. При расчёте показателей надёжности устройств необходимо располагать справочными данными о показателях надёжности элементов.

В настоящее время основной справочной характеристикой безотказности элементов, приводимой в технических условиях или других технических документах, является интенсивность отказов ? 0 . Значение ? 0 принимается постоянным в течение определённой наработки, также указываемой в технической документации, и соответствует номинальному электрическому режиму и нормальным (лабораторным) условиям эксплуатации, если явно не указано иное. Ранее (примерно до 80-х годов прошлого века) приводимые значение ? 0 характеризовали безотказность элементов с точки зрения лишь внезапных отказов. В настоящее время значения ? 0 , приводимые в технической документации и справочниках по надёжности, характеризуют безотказность элементов с учётом как внезапных, так и постепенных отказов . Размерность интенсивности отказов: Справочные значения ? 0 современных элементов занимают диапазон примерно 10 -10 – . 10 -5 1/ч. За рубежом для высоконадёжных элементов радиоэлектроники в качестве размерности ? стали использовать фит: 1фит = 10 -9 1/ч.

Дата добавления: 2019-02-26 ; просмотров: 182 ; ЗАКАЗАТЬ РАБОТУ.